T型接頭相控陣全聚焦法成像檢測

對于傳統的相控控陣技術-S掃（扇掃）和E掃(電子掃 )，只要聲束相應聚焦，就能提供橫向分辨率為2～3個波長的聲成像 。

用超聲相控陣全聚焦法 (TFM)時，若虛擬探頭用大孔徑，可得分辨力為1個波長。

相控陣全聚焦法原理

全聚焦法的前提要求是全矩陣捕獲(FMC)：再一個采集(探測)周期內，陣列的每一陣元均發射一個聲波，即共有n個陣元相繼發射。對每個發射．n個陣元中每一個陣元均接收一個A掃信號。這樣，總共就有個n2個顯示信號組合在一個矩陣中，矩陣橫行代表發射陣元，縱列代表接收陣元。對聲透射平面內的任何反射體，具有相同顏色的A顯示，表示聲傳播(飛行)時間相同。此時，A掃描顯示可作進一 步處理，以在一定關注區內創建超聲圖像。

T型接頭相控陣掃描

對T型接頭，通常最關注的重要缺陷是坡口面未熔合(腹板側和翼板側)、根部未焊透。超聲探頭置于翼板，在 組合焊縫對側進行掃查往往是第一選擇。

TFM能獲得很高的橫向分辨力，對關注區內每一點均可聚焦，故與反射體深度幾乎尤天。單一陣元激發和接收時，擴敞角很大，故掃查范鬧也很大。

TFM可用6dB降落法對缺陷定量，即使小缺陷亦如此。 像重建箅法，可用橫波、也可用縱波，甚至可以考慮用不同的變型波法 。對傾斜缺陷檢出率島高。

(3)TFM能減小近表面盲區，提高信噪比。

(4)使用不同的重建算法，TFM對圖像中缺陷定量有明顯改進，其可取代常規波幅評定法。借助于TFM提供的平臺 ，在缺陷圖像顯示上有優勢。

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